霍爾效應測試探針臺系統產品優勢及適用范圍返回列表

霍爾效應測試產品有：振動樣品磁強計 VSM、霍爾效應測試系統HEMS、霍爾效應測試系統EzHEMS

霍爾效應測試系統HEMS適用范圍： GaAS based materials (HEMSTs,pHEMTs,HBTs,FETs,MESFETs), lnP, InAs, GaN and AIN, Si, Ge, SiC, HgCdTd, ZnO, SiGe, MnGaAS, ZnO, 紅外應用(LED, laser diodes, detectors), 金屬氧化物, 有機材料, 無機材料, 鐵氧體等。

霍爾效應測試系統EzHEMS

•電阻率測量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)

•遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)

•載流子濃度: 107 -1021 per cm3 (取決于樣本)

•電流源:±2nAto±20mA,±12Vcompliance

振動樣品磁強計VSM

VSM Measurement Parameters

• 振動頭振動頻率(校準):1-100Hz

• VSM振蕩幅度范圍：0.1mm-5mm

• 最大樣品直徑：6mm

• 適用于液體、粉末、塊狀樣品測試