探針臺是做什么的？英鉑科學儀器告訴您返回列表

探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。

探針臺分類

探針臺從操作上來區分有：手動探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺，高低溫探針臺，磁場探針臺等探針臺產品;

從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探針臺(超低溫探針臺)，RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應探針臺，表面電阻率探針臺

經濟手動探針臺型

根據客戶需求定制

chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)

X-Y移動行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)

chuck Z軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離

顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)

顯微鏡移動方式：立柱環繞型、移動平臺型、龍門結構型(可選)

探針座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關

可搭配Probe card測試

適用領域：晶圓廠、研究所、高校等

半自動探針臺型

chuck尺寸800mm/600mm

X,Y電動移動行程200mm/150mm

chuck粗調升降9mm，微調升降16mm

可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡

針座擺放個數6～8顆

顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"

可搭配Probe card測試

適用領域：8寸/6寸Wafer、IC測試之產品

電動探針臺型

chuck尺寸1200mm，平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)

X,Y電動移動行程300mm x 300mm

chuck粗調升降9mm，微調升降16mm，微調精度土1u

可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡

針座擺放個數8～12顆

顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“

材質：花崗巖臺面+不銹鋼

可搭配Probe card測試

適用領域：12寸Wafer、IC測試之產品

LCD半自動探針臺

機械手臂取放片

電動、鍵入坐標尋位置

量測尺寸(mm)：1800x1600、1300x1200、1200x1000

LCD手動探針臺

白熾燈或者LED整面背光

TFT元件特性、Driver IC量測分析

機臺尺寸(mm)：800x600、500x400、300x300

PCB量測探針臺(TDR)

高頻測試探頭GSG / GS / SG

頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ

機臺尺寸同LCD 探針臺

太陽能產業探針臺(Solar Cell 量測系統)

量測軟體:

I-V /C-V Curve, Isc, Voc,

Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,

Power Convert Efficiency

采用KEITHLEY Source Meter

可加配任意品牌之太陽光模擬器