英鉑科學攜手HANWA助力XX微電子公司搭建ESD測試平臺返回列表
HED-G5000
HED-C5000R
產品介紹：
器件帶電模型測試機HED-C5000R，用于測試IC器件CDM模型下的抗靜電能力，符合國際標準AEC，JEDEC / ESDA JS-002之最新要求。滿足不同封裝形式半導體器件的工藝研發和量產測試，操作方便，性能穩定，已廣泛使用在國內外先進半導體公司。
產品優勢：
1、滿足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型測試規范
2、測試電壓最高可達4KV，為同類型機臺最高
3、供應商為JS-002規格制定委員會成員，技術可靠
4、硬件軟件的使用操作簡單，容易上手，為全球半導體Leading company的推薦使用機型
5、唯一具有D-AEC充放電功能的CDM測試機臺
產品介紹：
HANWA新一代G5000系列全自動ESD（HBM/MM）與閂鎖效應測試機隆重登場，最高支持2048pin，符合國際標準JEDEC /ESDA JS-001之最新要求，獨家采用無繼電器Mechanical GND設計，幾乎不受寄生電容效應的影響，避免對于先進制程IC器件造成錯誤的測試結果。
產品優勢：
1、適應以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA
2、該系統獨特的短路放電電路可通過其原始機械設計實現
3、短路最大限度地減少電感和電容對數據的影響
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數據穩定性
