Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機（256pin）
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動分選機 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡 高低溫樣品臺（卡盤）
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底 EMMI微光顯微鏡系列 Hitachi日立掃描電子顯微鏡
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 振動樣品磁強計 VSM Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型：直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
TS2500 Series Probe System
MPI的200毫米/8寸全自動探針臺系統系列是專門為解決射頻(RF)和大功率晶圓測試而開發的，該系統旨在實現24/7的生產可靠性，并與所有MPI系統附件兼容。
優勢：
適用于多種量產型晶圓級射頻量測應用
• 射頻量測 - 至高 67 GHz
• 可同時進行 DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV 量測
• 標準配備有偏心軸晶圓對準鏡頭
• 可支持配至薄50um薄晶圓選項
• 可支持溫度區間：20℃到300℃
上海市松江區廣富林東路199號啟迪漕河涇三期13幢2層
上海市高新技術企業，上海市“專精特新”企業
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