MPI 半自動晶圓級探針臺系統TS2000-SE Probe System(一)返回列表
MPI的TS2000-SE 8寸半自動探針臺是市場上首個具有創新功能的200mm自動化晶圓測試系統，其包含獨特的側面自動裝卸功能，優勢：適用于多種晶
MPI的TS2000-SE/8寸半自動探針臺是市場上具有創新功能的200mm自動化晶圓測試系統，其包含獨特的側面自動裝卸功能，
優勢：
適用于多種晶圓量測應用
• 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulse-IV
• 射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上
• 失效分析 - 探針卡 / 節間探測
• 可靠性測試 - 熱/ 冷 / 長時間測試
• 高功率測試 - 至高 10 kV / 600 A
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境
• 支持飛安級低漏電值量測
• 支持溫度范圍 -60 °C 至 300 °C
ShielDEnvironment™
MPI ShielDEnvironment™是一個高性能的微屏蔽暗箱，可為超低噪聲，低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環境。
ShielDCap™
MPI ShielDEnvironment™允許多達 4個端口的RF或多達8個端口的DC / Kelvin等多種測試組合。
