-
半自動探針臺手動扎針具體步驟TS3000-SE
TS3000-SE是TS3000探針臺系統的升級開發,該系統配備了MPI ShielDEnvironment™,可實現超低噪聲,滿足設備的需求表征,晶圓級可靠性 ...
-
超低溫磁場探針臺的特點與優勢
· 可用于高達100mm、150mm和200mm的晶圓測試· 可配置4或6個探針臂。· 還可以選擇探卡進行測試· 顯微鏡選擇包括7:1,12 5:1和16:1數 ...
-
低溫磁場探針臺三維磁場探針臺特點與優勢
· 磁場可以以三種模式被任意控制:固定的值, 線性掃描, 或者用戶可以自定義。· Wafer size:10mm,可升級到200mm· 磁場:方向任意 ...
-
超低溫半自動探針臺的主要技術指標
· 高性價比, 穩定,可靠,使用方便· 溫度范圍 10K -400K· 4 2K- 480K (可選)· 閉循環制冷,無需消耗液氦· 樣品座尺寸: 1英 ...
-
手動晶圓級探針臺系統TS150&TS200&TS300的詳細介紹
TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300應用于測試半導體晶圓級、器件類電學特性,具備可以快速拖動樣品臺,更換樣品功能,并且有著獨特Platen ...